Кафедра общей физики (ОФ)

Направления и области обучения

История и детали

К

Кафедра была образована в мае 1966 г. одной из первых в МИЭТ. Ее первым заведующим на протяжении почти 10 лет являлся д.ф.-м.н., профессор Т. Д. Шермергор. В последующие годы кафедрой руководили д.ф.-м.н., профессора В. Д. Вернер, В. И. Мурыгин, Г. Н. Гайдуков. С 2000 г. заведующим кафедрой является д.ф.-м.н., профессор Н.И. Боргардт.

Преподавательский состав кафедры включает 6 профессоров, 10 доцентов, 1 старший преподавателя, в качестве преподавателей-совместителей на кафедре работают 4 доцента и 2 старших преподавателя.

Кафедра общей физики входит в Ассоциацию кафедр физики технических вузов России и Москвы.

С 2013 г. на кафедре осуществляется подготовка магистров по программе «Нанодиагностика материалов и структур» по направлению 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника».

 

Направление «11.04.04 Электроника и наноэлектроника»

Программа: Нанодиагностика материалов и структур

Особенности обучения

Обучение ориентировано на формирование глубоких теоретических знаний в области электроники и наноэлектроники с акцентом на изучение и практическое использование методов диагностики материалов, структур и нанообъектов. В ходе обучения в магистратуре помимо прохождения курсов, связанных с проектированием и технологиями электронной компонентной базы и физики наноразмерных структур, примерно половина времени посвящается практической работе в лаборатории электронной микроскопии (ЛЭМИ, https://miet.ru/structure/s/824/e/11705/174), оборудование которой соответствует самому современному мировому уровню. Студент в достаточно короткие сроки получает теоретические сведения и навыки практической работы на приборах, которые достаточны для решения реальных задач, связанных с анализом и модификацией интегральных микросхем, изучением морфологии и состава объектов, изготовлением наноструктур.

Эффективному освоению программы способствует высокая квалификация преподавателей, широкий спектр научно-исследовательских работ, выполняемых в лаборатории, дружественная профессиональная атмосфера. На время обучения студенту предоставляется рабочее место, оборудованное высокопроизводительным ПК для анализа получаемых экспериментальных данных, общежитие, возможность участия в финансируемой научно-исследовательской деятельности и представления полученных результатов на всероссийских и международных научных конференциях.

 

Оборудование лаборатории электронной микроскопии

• Растровый электронный микроскоп Philips XL 40, оснащенный детектором рентгеновского излучения
• Электронно-ионный микроскоп Helios NanoLab 650, сочетающий растровый электронный микроскоп с пространственным разрешением микрофотографий до 1 нм и систему с фокусированным ионным пучком, открывающую возможность для локального травления образцов и осаждения на них различных структур
• Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis 200 с корректором сферической аберрации и разрешающей способностью 0,9 Å, позволяющей исследовать атомарное строение материалов
• Прецизионная ионно-полировальная система Gatan PIPS model 691
• Установка магнетронного напыления тонких пленок Cressington 208HR High
• Оптический микроскоп Vistec INM100
• Высокопроизводительные рабочие станции, позволяющие выполнять ресурсозатратные вычисления с применением современных методов моделирования

Обучение в магистратуре включает прохождение педагогической практики, позволяющей приобрести навыки преподавательской работы при проведении  лабораторных занятий на кафедре общей физики.

 

Научно-образовательная школа

Обучение и подготовка специалистов по программе осуществляется преподавателями и научными сотрудниками, обладающими теоретическими и практическими навыками в области микро- и наноэлектроники, методов исследования и диагностики структуры материалов, в том числе на атомарном уровне. Они являются ведущими специалистами в своей области, активно участвуют в выполнении научно-исследовательских работ и имеют публикации в высокорейтинговых отечественных и зарубежных журналах. Руководитель программы профессор, д.ф.-м.н. Н.И. Боргардт является постоянным членом программного комитета всероссийских конференций по электронной микроскопии. За последние 5 лет на базе лаборатории электронной микроскопии подготовлено и защищено 8 магистерских работ, 4 кандидатских и 1 докторская диссертация.

 

Научно-образовательная деятельность, предлагаемая в лаборатории, носит междисциплинарный характер и включает как теоретическую, так и экспериментальную подготовку. Обучающиеся в магистратуре приобретают и отрабатывают навыки работы на оборудовании мирового уровня и получают на них свои экспериментальные результаты. Количественный анализ полученных данных осуществляется с применением либо известных программных продуктов, либо самостоятельно разработанных программ.

 

Основные направления специализированной подготовки и темы магистерских диссертаций:

1. Методы сканирующей электронной микроскопии. Цифровая обработка экспериментальных электронно-микроскопических изображений. Количественная характеризация нанообъектов и поверхности наноструктур.
2. Метод фокусированного ионного пучка. Прецизионная модификация нанообъектов и поверхности материалов. Формирование рельефа с заданным профилем на поверхности структуры. Моделирование процессов взаимодействия высокоэнергетических ионов с атомами исследуемого объекта.
3. Методы просвечивающей электронной микроскопии. Дифракционные методы исследования структуры объектов. Метод просвечивающей электронной микроскопии с атомарным разрешением. Метод просвечивающей сканирующей электронной микроскопии. Моделирование электронно-микроскопических изображений.
4. Методы рентгеновского микроанализа состава наноструктур с применением сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии.

 

Сфера занятости

Имея глубокую теоретическую подготовку и обладая навыками практической работы на современном оборудовании, выпускники программы могут работать высококвалифицированными специалистами как на промышленных предприятиях, так и в исследовательских и аналитических центрах и лабораториях, выполняющих характеризацию, диагностику и анализ материалов, структур и нанообъектов, используемых или являющихся перспективными для современной микро- и наноэлектроники.

 

В числе таких организаций:

• Системы микроскопии и анализа (Сколково)
• ЗНТЦ
• ОАО «НИИМЭ»
• ОАО «Микрон»
• ОАО «Ангстрем»
• Миландр

Высокий уровень подготовки позволяет выпускникам программы продолжить дальнейшее обучение в аспирантуре МИЭТ по специальностям

01.04.07 «Физика конденсированного состояния»;

01.04.10 «Физика полупроводников».

Темы диссертационных работ аспирантов связаны с основными направлениями научных исследований ЛЭМИ:

1) Изучение структурных особенностей гетероструктур на основе двумерных материалов (подробнее https://vk.com/albums-160495175?z=photo-160495175_457239126%2Fphotos-160495175)

2. Теоретические и экспериментальные исследования воздействия высокоэнергетичных ионов на атомарную структуру материала

3. Морфология и атомарная структура наночастиц

 

Контактная информация:

Кафедра общей физики:

тел. (499) 720-85-58

e-mail: gpd@miee.ru

 

Лаборатория электронной микроскопии

https://miet.ru/structure/s/824/e/11705/174

тел. (499) 720-87-65

e-mail: lemi@miee.ru

 

Наша группа ВКонтакте:

https://vk.com/club160495175